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| 品牌 | LNEYA/無錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 10萬-50萬 | 產地類別 | 國產 |
| 儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產業,電子/電池,制藥/生物制藥,汽車及零部件 |
主要產品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，
?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。
半導體專溫控設備
射流式?低溫沖擊測試機
半導體專用溫控設備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統
Chiller直冷型
循環風控溫裝置
半導體?低溫測試設備
電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源
射流式高低溫沖擊測試機
快速溫變控溫卡盤
數據中心液冷解決方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內循環液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
-115射流高低溫沖擊測試機 制冷循環?機組
-115射流高低溫沖擊測試機 制冷循環?機組
射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環境溫度。
是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設備。
溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃，升降溫速率?常快速，150℃?-55℃＜10秒，zui??流量：30m3/h；
實時監控被測IC真實溫度,實現閉環反饋，實時調整?體溫度升降溫時間可控，程序化操作、?動操作、遠程控制
光模塊高低溫測試設備是用于測試半導體芯片在不同溫度環境下的性能和可靠性的重要設備，為了確保測試結果的準確性和設備的長期使用，需要進行定期的維護保養。下面將介紹光模塊高低溫測試設備的維護保養知識。
1、設備外觀檢查
定期檢查光模塊高低溫測試設備的外觀，包括機器外殼、控制面板、電源線、電纜等。如有發現損壞或異常，應及時維修或更換。
2、設備內部清潔
清潔光模塊高低溫測試設備內部是維護保養的重要步驟。使用干燥的壓縮空氣或無塵布清潔設備內部，特別是冷凝器、散熱器、電氣部件等部位。確保設備內部沒有灰塵和污垢，以保證設備的散熱效果和電氣性能。
7、記錄和維護記錄
對光模塊高低溫測試設備每次維護保養進行記錄，包括檢查的項目、發現的問題、采取的措施等。保持記錄的完整性和準確性，以便追蹤和管理設備的維護歷史。
總之，光模塊高低溫測試設備的維護保養是確保設備正常運行和使用壽命的節，通過定期檢查、清潔、維修和記錄等方法，可以有效地提升設備的性能和可靠性，降低故障率，從而為半導體芯片的研發和生產提供可靠的測試保障。
